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رؤى - 天文學和天體物理學 - # 吸積X射線脈衝星IGR J17480-2446和IGR J17511-3057的NuSTAR觀測

NuSTAR觀測兩個吸積X射線脈衝星IGR J17480-2446和IGR J17511-3057的詳細分析


المفاهيم الأساسية
本文報告了NuSTAR對吸積X射線脈衝星IGR J17480-2446和IGR J17511-3057的觀測分析結果。IGR J17480-2446的光譜可用兩個軟熱成分和一個硬X射線功率律成分來描述,表明其處於軟狀態。IGR J17511-3057則表現出硬光譜,由冕的康普頓散射輻射主導。兩個源都顯示出盤反射的證據,可用自洽的反射模型很好地擬合。我們確定了這兩個源的內盤半徑和系統傾角。
الملخص

本文報告了NuSTAR對兩個吸積X射線脈衝星IGR J17480-2446和IGR J17511-3057的觀測分析結果。

IGR J17480-2446:

  • 光譜可用兩個軟熱成分(diskbb和bbody)和一個硬X射線功率律成分來描述
  • 這些光譜參數表明源處於軟狀態,與大多數其他吸積X射線脈衝星(通常處於硬狀態)不同
  • 光譜中有明顯的盤反射特徵,包括5-8 keV的寬鐵K線和10-20 keV的康普頓反彈
  • 用自洽的反射模型relxillNS擬合,可以很好地約束內盤半徑(1.99-2.68 RISCO)和系統傾角(30±1度)

IGR J17511-3057:

  • 光譜主要由硬康普頓成分(cutoffpl)主導,與大多數吸積X射線脈衝星相似
  • 也有明顯的盤反射特徵,用relxill模型擬合可約束內盤半徑(≲1.3 RISCO)和系統傾角(44±3度)

兩個源都需要低傾角角度系統來解釋觀測到的反射特徵。我們還對這兩個源的磁場強度給出了上限估計。

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الإحصائيات
IGR J17480-2446: 3-40 keV未吸收通量為6.3×10-9 erg/s/cm2 0.1-100 keV未吸收總流量為8.84×10-9 erg/s/cm2,對應於3.68×1037 erg/s的未吸收總光度,約為艾丁頓光度的10% IGR J17511-3057: 3-79 keV未吸收通量為6.28×10-10 erg/s/cm2 未吸收總光度為4.46×1036 erg/s,約為艾丁頓光度的1%
اقتباسات
IGR J17480-2446: 內盤半徑為1.99-2.68 RISCO 系統傾角為30±1度 IGR J17511-3057: 內盤半徑≲1.3 RISCO 系統傾角為44±3度

الرؤى الأساسية المستخلصة من

by Aditya S. Mo... في arxiv.org 10-01-2024

https://arxiv.org/pdf/2409.20323.pdf
NuSTAR view of the accreting X-ray pulsars IGR J17480-2446 and IGR J17511-3057

استفسارات أعمق

這兩個源的軟/硬狀態轉換機制是什麼?是否與其他吸積X射線脈衝星有所不同?

IGR J17480-2446和IGR J17511-3057的軟/硬狀態轉換機制主要與其吸積過程和光譜特徵有關。IGR J17480-2446在NuSTAR觀測中顯示出軟狀態的特徵,這是由於其光譜中存在兩個軟熱成分(diskbb和bbody)以及一個硬X射線的功率律成分。這種光譜特徵表明,該源的吸積盤可能在較低的溫度下運行,並且其吸積過程相對於其他通常在硬狀態下的吸積X射線脈衝星(AMSPs)有所不同。相比之下,IGR J17511-3057則顯示出硬光譜,主要由康普頓化的發射主導,這與大多數AMSPs的行為一致,這些源通常在硬狀態下運行。因此,這兩個源的狀態轉換機制顯示出不同的光譜特徵,反映了它們在吸積過程中的不同物理環境。

如果IGR J17480-2446確實處於軟狀態,那麼它的物理機制和演化過程與其他硬狀態吸積X射線脈衝星有何不同?

IGR J17480-2446的軟狀態表明其吸積盤的溫度較低,這可能是由於其吸積率較低或吸積盤的結構與其他硬狀態AMSPs不同。在硬狀態的AMSPs中,吸積盤通常具有較高的溫度和較強的康普頓化發射,這導致了更高的X射線亮度和硬光譜。IGR J17480-2446的演化過程可能涉及更長的軟狀態持續時間,這使得其吸積盤能夠冷卻並形成較為穩定的熱結構。此外,IGR J17480-2446的磁場強度和磁層半徑也可能影響其吸積過程,導致與其他硬狀態AMSPs不同的物理機制。這些差異使得IGR J17480-2446在演化過程中可能經歷了不同的吸積歷史和環境條件。

這兩個源的磁場強度和磁層半徑如何影響它們的光譜和反射特徵?是否可以進一步利用這些信息探索中子星的物理性質?

IGR J17480-2446和IGR J17511-3057的磁場強度和磁層半徑對其光譜和反射特徵有顯著影響。磁場強度影響著吸積盤的結構和物質的運動,從而影響X射線的發射特性。IGR J17480-2446的磁場強度上限為1.0 × 10^9 G,而IGR J17511-3057的磁場強度上限則為0.096 × 10^9 G,這表明IGR J17480-2446可能具有更強的磁場,這可能導致其吸積盤的截斷半徑較小,從而影響其光譜特徵。 此外,磁層半徑的變化會影響到反射特徵的強度和形狀。較小的磁層半徑可能導致更強的反射特徵,因為更多的高能光子會與吸積盤相互作用,產生反射光譜。這些反射特徵可以用來推斷吸積盤的幾何結構、離子化狀態以及系統的傾斜角度,進一步揭示中子星的物理性質。因此,通過分析這些光譜和反射特徵,科學家可以獲得有關中子星內部結構、磁場特性及其演化歷史的重要信息。
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