本文使用外延生長的Ni-Mn-Ga薄膜作為模型系統,研究了快速閃光燈退火(FLA)對馬氏體微觀結構形成的影響。通過結合多種表徵方法,從原子尺度到宏觀尺度量化了不同退火能量密度(ED)下微觀結構的變化。
實驗發現,存在三個主要機制控制微觀結構的形成:1) 只有當ED超過一定閾值時,才會發生馬氏體相變;2) 隨著ED的增加,微觀結構形成的時間變短;3) 隨著ED的增加,薄膜內部的熱應力也在增加。
這三個機制解釋了從原子尺度到宏觀尺度的各種微觀結構變化:1)限制了納米孿晶界的有序化,導致核形核更小;2)縮短了形成時間,使得孿晶界間距減小,以及殖民體尺寸減小;3)引起了從Y型到X型孿晶界的取向重排,並在高ED下導致薄膜的起皺和開裂。
本研究提供了對馬氏體微觀結構形成動力學的深入理解,這對於設計高性能的形狀記憶合金器件至關重要。
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