本論文では、量子Tannerコードに対する2つの効率的な復号アルゴリズム、順次復号アルゴリズムと並列復号アルゴリズムを提案する。これらのアルゴリズムは、測定誤りが存在する状況でも単一ショット復号が可能であることを示す。
具体的には以下の結果を示す:
順次復号アルゴリズムは、測定誤りの重みに線形に依存する残留誤りを生成する単一ショット復号器である。
並列復号アルゴリズムは、測定誤りの重みに線形に依存し、かつ元のデータ誤りの重みにも依存する残留誤りを生成する単一ショット復号器である。並列復号を十分な回数行えば、残留誤りの重みを定数に抑えられる。
これらの結果は、量子Tannerコードが量子誤り耐性プロトコルにおいて魅力的であることを示している。単一ショット復号により、測定誤りに頑健な効率的な量子誤り訂正が可能となる。
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