이 논문은 회절 단층 촬영(DT)을 일반화된 입사장에 적용하는 방법을 제안한다. 기존 DT는 단일 평면파 입사장을 가정하지만, 실제 응용에서는 이 가정이 충족되지 않는 경우가 많다. 따라서 저자들은 입사장을 일반화된 형태로 모델링하고, 이에 맞는 새로운 푸리에 회절 정리를 도출한다.
이를 바탕으로 두 단계 재구성 방법을 제안한다. 첫 번째 단계에서는 측정 데이터로부터 푸리에 공간의 데이터를 추출하고, 두 번째 단계에서는 푸리에 역변환을 통해 산란 포텐셜을 재구성한다.
저자들은 또한 수치 실험을 통해 제안한 방법의 성능을 검증한다.
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