本文提出了一個普遍理論,解釋了如何通過耦合具有相反切爾恩數的雙層切爾恩絕緣體來誘發可調控的二階拓撲角態。
首先,作者分析了單層切爾恩絕緣體的d向量分布,並展示了耦合系統中出現的零能量角態。結果表明,角態的位置可以通過調整扭轉角度來精確控制。
接下來,作者從邊緣態理論出發,推導出角態出現的解析條件。具體而言,當邊緣的法向角θ滿足θ=α/2或θ=α/2+π時,邊緣態保持無隙,否則會被層間耦合打開能隙。因此,只有當兩邊的法向角(θ1,θ2)滿足min(θ1,θ2)<α/2(α/2+π)<max(θ1,θ2)時,才會在該角落出現零維角態。
最後,作者設計了L形耦合雙層切爾恩絕緣體納米片,並驗證了此普遍理論的適用性。通過調整扭轉角度,可以精確控制角態的數量和位置。這一結果表明,本文提出的理論不受納米片形狀的限制,具有普遍適用性。
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