本研究では、CMOS アニーリングマシンを用いてサポートベクターマシン(SVM)の性能評価を行った。線形分離可能な問題と線形分離不可能な問題の2つのケースを検討し、CMOS アニーリングマシンとクラシカルなコンピューターの分類精度を比較した。
線形分離可能な問題では、CMOS アニーリングマシンは93.7%の精度を達成した。線形分離不可能な問題1では92.7%、問題2では97.6%の精度を示した。これらの結果は、CMOS アニーリングマシンがクラシカルなコンピューターと同等以上の高い分類精度を実現できることを示している。
CMOS アニーリングマシンの性能は、ハイパーパラメータの最適化に大きく依存することが明らかになった。ハミルトニアンに含まれるパラメータの調整が精度向上に重要な役割を果たしている。今後は、自動チューニング技術の適用などにより、CMOS アニーリングマシンの性能をさらに向上させることが期待される。
他の言語に翻訳
原文コンテンツから
arxiv.org
深掘り質問