本論文は、CERNのAWAKE実験において加速された電子バンチのエミッタンス測定に関する研究論文である。
本研究の目的は、AWAKE実験において加速された電子バンチのエミッタンスを測定し、その値が予想されるエミッタンス増大と一致するかどうかを検証することである。
AWAKE実験で用いられている電子分光計を用いて、電子バンチの垂直面におけるエミッタンスを測定した。データ解析には、3つの異なる方法を用いた。1つ目は、上流の四重極磁石の強度を変化させ、下流のビームサイズを測定する従来の四重極スキャン技術である。2つ目は、水平面におけるエネルギー分散を利用して、各垂直スライスが異なる四重極強度を経験したと仮定し、単一の分光計画像からエミッタンスを決定する単一ショットビームサイズ測定法である。3つ目は、単一ショットビームサイズ測定法と同様に各垂直スライスを解析し、逆ラドン変換を用いて位相空間を再構成する単一ショット位相空間トモグラフィー法である。
測定の結果、3つの方法全てにおいて、注入ビームのエミッタンス(約0.08 mm mrad)に比べて、加速された電子バンチのエミッタンスが大きくなっていることが確認された(約0.5 mm mrad)。これは、プラズマ密度ランプと大きな注入ビームバンチサイズに起因するエミッタンス増大と一致している。
本研究の結果は、AWAKE実験における電子ビームのエミッタンス増大の要因を理解する上で重要な知見を与えるものである。測定されたエミッタンスの大きな値は、プラズマ密度ランプと大きな注入ビームバンチサイズがエミッタンス増大に寄与していることを示唆している。
AWAKE実験の将来の運用では、エミッタンス増大を抑制するために、プラズマ密度ランプの形状を最適化することや、より小さなエミッタンスの電子ビームを生成することが検討されている。また、分光計の光学系の分解能を向上させることで、より小さなエミッタンスの電子ビームを測定することが可能になると期待される。
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