核心概念
本稿では、ゲルマニウムセレン(GeSe)相変化材料(PCM)層を統合したシリコンオンインシュレータ(SOI)導波路におけるハイブリッドTE-TMモードの干渉を利用した、新規なハイブリッドモード干渉計(HMI)を提案しています。このデバイスは、多値フォトニックメモリやニューロモルフィックコンピューティングへの応用が期待される、低損失で高コントラストな光変調を実現します。
要約
ゲルマニウムセレンを用いたハイブリッドモード干渉計による多値フォトニックメモリの提案
本論文は、ゲルマニウムセレン(GeSe)相変化材料(PCM)層を統合したシリコンオンインシュレータ(SOI)導波路におけるハイブリッドTE-TMモードの干渉を利用した、新規なハイブリッドモード干渉計(HMI)を提案する研究論文である。
本研究の目的は、エネルギー効率が高く高速なデータストレージとして期待される集積フォトニックメモリを実現するために、低損失で高コントラストな光変調を実現するコンパクトなデバイスを開発することである。
研究者らは、有限差分法を用いたLumerical Modeソルバーを用いて、HMI構造の有効屈折率と偏光分率を計算した。また、Lumerical EMEソルバーを用いて、HMIの透過率を計算した。さらに、HMIを2つのアームに組み込んだマッハツェンダー干渉計(MZI)の透過特性についても検討した。