核心概念
位相整形電子エネルギー損失分光法(PSEELS)は、従来の光学顕微鏡ではアクセスできなかった電気四重極子モーメントなどのナノ光学量の測定を可能にする。
要約
この論文は、位相整形電子エネルギー損失分光法(PSEELS)を用いて、従来の光学顕微鏡ではアクセスできなかった電気四重極子モーメントなどのナノ光学量をマッピングできることを示しています。
背景
- 自然放出とは、量子放出体(QE、すなわち、少数準位束縛電子系)が光子を放出することによって、2つの状態|e⟩→|g⟩の間を遷移するプロセスを指します。
- この自由空間減衰率Γ0は、任意の種類の誘電体環境にエミッタを弱く結合させることによって増強することができます[1]。
- 実際、この媒体は、エミッタが崩壊できる電磁状態の局所密度ρ(EMLDOS)を増加させます。この効果は、有名なパーセル公式[2、3]で直感的に捉えられています。
- この現象全体は、量子ドット[4]、原子[5]、または分子[6]などの束縛電子系に限定されず、透過型電子顕微鏡(TEM)における電子エネルギー損失分光法(EELS)と呼ばれるスキームで自由電子状態でも観察できます。
電子エネルギー損失分光法(EELS)
- EELSは、高速電子(v∼光速の80%)がナノオブジェクトと非弾性的に相互作用する際に受けるわずかなエネルギー損失を分析することで構成され、最近、単一原子で実証されたように、そのサブオングストロームダイナミクスを明らかにします[7]。
- 注目すべきことに、EMLDOSのzフーリエ変換˜ρとEELSで測定された観測量(電子がエネルギーℏωを失う確率ΓEELS)との間の関係が確立されました[8]。
- 式(1)と(2)の類似性は、束縛電子散乱と自由電子散乱の間に深い類似性があることを示唆していますが、パーセル効果(1)の重要な要素である遷移双極子モーメントを明示的には含んでいません。
位相整形EELS(PSEELS)
- この問題は、電子ビーム波面を整形[12、13]および事後選択[14、15]することを提案した一連の理論的研究[9–11]によって過去10年間で解消されました。
- 実際、高速電子ビームは非常に平行であるため、このアプローチは、初期EELS平面波散乱問題|ki⟩→|kf⟩を横波動関数|ki⟩⊗|Ψi、⊥⟩→|kf⟩⊗|Ψf、⊥⟩の対称性で装飾するだけです。
- この追加の自由度は、遷移確率(2)に新しい選択規則を導入します。
- 特に、次数i = 1のエルミート・ラゲール・ガウス(HLG)状態|Ψ⟩(線形または軌道角運動量の1つの量子を運ぶトポロジー的に特異なビームを表す[16、17])から、整形されていないガウス波面|G⟩への遷移の確率は、次のように記述できることが示されました[18–21]。
- このスキーム(偏光EELS(pEELS)と呼ばれる)は、EELSにおける任意の偏光軸に沿ったEMLDOSの測定を可能にし[22–24]、自由電子散乱(3)とパーセル現象(1)の類似性を完成させます。
本論文の成果
- この論文では、|i −j| > 1の任意の初期i次数と最終j次数のHLG状態の散乱を考慮することにより、EELSを双極子次数(3)を超えてプッシュできることを示しており、パーセルの類似性を超えています。
- この形式主義は、量子数(すなわち、線形運動量と角運動量)の保存に重点を置いており、すべての次数で選択規則を明示的にし、散乱メカニズムの直感的な картину を提供します。
- 原子分光法の精神に基づき、この単純さにより、任意の実験家が任意の整数iとjに対してEELSによってプローブされたナノ光学量の参照表を作成することができます。
- 最後に、3つの例のシリーズで論文を締めくくります。最初に、EELSとpEELSの両方がそれぞれ|i −j| = 0と|i −j| = 1で回復することを確認し、次に、遷移|i −j| = 2がナノ光学場の四重極子成分を測定することを示します。これにより、|i −j| > 1を満たす遷移が、ほとんどすべての光学技術では到達できない量にアクセスできることが示されます。
結論
- PSEELSは、従来の光学顕微鏡ではアクセスできなかった電気四重極子モーメントなどのナノ光学量の測定を可能にする強力なツールです。
- この技術は、ナノスケールでの光と物質の相互作用の理解を深めるための新しい道を切り開く可能性があります。