MAST-U 장치에서 다양한 실험 조건에서 얻은 2D 전자 밀도 프로파일을 분석하였다. 주요 결과는 다음과 같다:
슈퍼-X 디버터 구성에서 전자 밀도와 입자 속이 더 낮으며, 이는 더 큰 총 유속 팽창과 플라즈마-중성입자 상호작용 체적 증가에 기인한다.
디버터 분리 진행에 따라 전자 밀도 프로파일은 비단조적으로 변화하며, 분리 전선 아래에서 밀도가 증가하는 경향을 보인다. 이는 중성입자 끌림 효과에 의한 것으로 해석된다.
오믹 가열 조건에서는 전자 밀도 전선이 타겟에서 분리되는 현상이 관찰되며, 이는 전자-이온 재결합 손실이 중성입자 끌림 효과를 지배하게 되는 것으로 설명된다.
SOLPS 시뮬레이션과 비교 시 전반적으로 잘 일치하나, 슈퍼-X 디버터의 초기 분리 단계에서는 실험 결과와 차이가 있다. 이는 시뮬레이션에서 중성입자 끌림 효과나 입자 손실 과정이 과대평가되었기 때문으로 보인다.
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