핵심 개념
일반화된 입사장을 고려하여 산란 포텐셜을 효율적으로 재구성하는 새로운 두 단계 방법을 제시한다.
초록
이 논문은 회절 단층 촬영(DT)을 일반화된 입사장에 적용하는 방법을 제안한다. 기존 DT는 단일 평면파 입사장을 가정하지만, 실제 응용에서는 이 가정이 충족되지 않는 경우가 많다. 따라서 저자들은 입사장을 일반화된 형태로 모델링하고, 이에 맞는 새로운 푸리에 회절 정리를 도출한다.
이를 바탕으로 두 단계 재구성 방법을 제안한다. 첫 번째 단계에서는 측정 데이터로부터 푸리에 공간의 데이터를 추출하고, 두 번째 단계에서는 푸리에 역변환을 통해 산란 포텐셜을 재구성한다.
저자들은 또한 수치 실험을 통해 제안한 방법의 성능을 검증한다.
통계
산란 포텐셜 f는 반경 rs 이내의 디스크 내에 국한된다.
측정은 반경 rM 이상의 고정된 선상에서 이루어진다.
입사장 uinc는 식 (4)와 같이 평면파의 중첩으로 표현된다.
인용구
"회절 단층 촬영은 약하게 산란되는 물체의 공간적 물성 분포를 재구성하는 역산란 기법이다."
"기존 회절 단층 촬영은 단일 평면파 입사장을 가정하지만, 이는 실제 영상화 시나리오에서 비현실적인 단순화이다."