이 논문은 IXPE 관측을 통해 GX 340+0의 수평 지점에서 X선 편광 특성을 보고한다.
주요 내용은 다음과 같다:
IXPE 관측 결과, GX 340+0의 수평 지점에서 4.3%의 높은 편광도가 측정되었다. 이는 이전에 관측된 다른 Z 형 소스들의 수평 지점 편광도와 일치하는 결과이다.
분광 편광 분석을 통해 연화 스펙트럼 성분(diskbb)과 경화 스펙트럼 성분(comptt)의 편광각이 약 40도 차이가 나는 것으로 나타났다. 이는 중성자별 자전축과 원반 축의 불일치를 시사한다.
반사 성분(relxillNS)의 편광도는 경화 성분의 편광도에 따라 달라지는데, 경화 성분의 편광도가 높을수록 반사 성분의 편광도는 낮아진다. 이는 두 성분의 편광 특성을 분리하기 어려움을 보여준다.
편광도의 에너지 의존성 분석 결과, 낮은 에너지 영역(2.0-2.5 keV)에서 다른 영역과 약 37도 차이나는 편광각이 관측되었다. 이는 중성자별 자전축과 원반 축의 불일치를 지지한다.
편광도의 시간 의존성 분석 결과, 관측 기간 동안 편광도와 편광각이 일정한 것으로 나타났다.
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