핵심 개념
단결정 Al2O3 유전체를 이용하여 고성능 2D 트랜지스터 상부 게이트를 제작하였다.
초록
이 연구에서는 원자 수준의 두께를 가지는 단결정 Al2O3 (c-Al2O3)를 2D 전계 효과 트랜지스터(FET)의 고품질 상부 게이트 유전체로 사용하는 방법을 제시하였다.
- 침입 산화 기술을 사용하여 실온에서 단결정 Al 표면에 두께 1.25 nm의 안정적이고 화학량론적인 c-Al2O3 층을 형성하였다.
- c-Al2O3의 우수한 결정 구조와 잘 정의된 계면 특성으로 인해 누설 전류, 계면 상태 밀도 및 유전 강도가 국제 반도체 로드맵 요구 사항을 충족하였다.
- 소스, 드레인, 유전체 및 게이트를 한 번의 전사 공정으로 제작한 MoS2 상부 게이트 FET는 61 mV/dec의 급준 문턱 전압 스윙, 108의 높은 온/오프 전류비, 10 mV의 작은 히스테리시스 특성을 보였다.
- 이 기술과 물질은 부정적 용량성 트랜지스터 및 스핀 트랜지스터를 포함한 고성능 2D FET 제작을 위한 고품질 단결정 산화물 통합의 가능성을 보여준다.
통계
단결정 Al2O3 유전체의 두께는 1.25 nm이다.
MoS2 상부 게이트 FET의 문턱 전압 스윙은 61 mV/dec이다.
MoS2 상부 게이트 FET의 온/오프 전류비는 10^8이다.
MoS2 상부 게이트 FET의 히스테리시스는 10 mV이다.
인용구
"단결정 Al2O3 유전체를 이용하여 고성능 2D 트랜지스터 상부 게이트를 제작하였다."
"c-Al2O3의 우수한 결정 구조와 잘 정의된 계면 특성으로 인해 누설 전류, 계면 상태 밀도 및 유전 강도가 국제 반도체 로드맵 요구 사항을 충족하였다."
"이 기술과 물질은 부정적 용량성 트랜지스터 및 스핀 트랜지스터를 포함한 고성능 2D FET 제작을 위한 고품질 단결정 산화물 통합의 가능성을 보여준다."