본 연구 논문에서는 Sachdev-Ye-Kitaev (SYK) 모델 및 저랭크 변형 모델을 기반으로 하는 근사 양자 오류 정정 코드의 오류 임계값에 대해 분석하고 있습니다. SYK 모델은 높은 바닥 상태 축퇴도를 가지고 있어 다수의 논리 큐비트를 인코딩할 수 있는 근사 QEC 코드로 활용될 수 있습니다.
연구팀은 서로 다른 두 가지 유형의 디코히어런스 채널, 즉 페르미온 패리티를 보존하는 노이즈와 그렇지 않은 노이즈를 적용하여 SYK 코드의 정보 손실을 정량화했습니다. 그 결과, 페르미온 패리티를 보존하는 노이즈 환경에서는 특정 오류율 임계값까지는 양자 정보가 안정적으로 유지되다가, 임계값을 넘어서면 급격하게 정보 손실이 발생하는 것을 확인했습니다.
특히, 이러한 임계값은 강한 페르미온 패리티 대칭성이 깨지면서 약한 패리티 대칭성을 갖는 상태로 전이되는 현상과 관련이 있음을 밝혔습니다. 즉, 강한 패리티 대칭성을 유지하는 노이즈 환경에서는 특정 오류율까지는 양자 정보가 보호되지만, 임계값을 넘어서면서 대칭성이 깨지면서 오류 정정 능력을 상실하게 됩니다.
반면, 페르미온 패리티를 깨뜨리는 노이즈 환경에서는 오류율이 증가함에 따라 양자 정보 손실이 지속적으로 발생하여 명확한 임계값을 나타내지 않았습니다.
본 연구는 SYK 모델 기반의 근사 양자 오류 정정 코드의 오류 임계값에 대한 이해를 높이고, 특히 강한 페르미온 패리티 대칭성 붕괴와의 연관성을 밝힘으로써, 향후 양자 컴퓨팅 및 양자 정보 처리 분야에서 보다 안정적인 양자 오류 정정 코드 개발에 기여할 것으로 기대됩니다.
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