핵심 개념
GaAs 기판에서 AlGaInAs 조성 변화 버퍼(CGB)의 상 분리를 억제하고 쓰레딩 전위 밀도(TDD)를 줄임으로써 고효율 1550nm 광전 변환기 제작을 위한 성장 조건을 최적화했습니다.
초록
AlGaInAs 조성 변화 버퍼를 이용한 고효율 GaInAs 광전 변환기 제작 연구
본 연구는 GaAs 기판에서 1550nm 파장 대역에서 높은 효율을 갖는 GaInAs 광전 변환기를 제작하기 위해 AlGaInAs 조성 변화 버퍼(CGB)의 성장 조건을 최적화하는 데 중점을 두고 있습니다.
연구 배경
1550nm 파장은 레이저 기반 에너지 전송 및 열광전 애플리케이션에 적합한 파장입니다. InP 기판에 성장된 0.74eV GaInAs는 이 파장 대역에서 우수한 성능을 보이지만, InP 기판은 고가이며 대면적 성장이 어렵다는 단점이 있습니다. 반면 GaAs 기판은 저렴하고 대면적 성장이 가능하여 GaInAs 기반 소자의 제작 단가를 낮출 수 있는 매력적인 대안입니다. 그러나 GaAs와 GaInAs 사이의 격자 상수 차이로 인해 고품질의 GaInAs를 성장시키기 위해서는 CGB와 같은 특수한 버퍼층이 필요합니다.
AlGaInAs CGB의 문제점: 상 분리 및 높은 TDD
AlGaInAs CGB는 GaAs와 InP 사이의 격자 상수 차이를 완화하는 데 효과적이지만, 높은 인듐 함량에서 상 분리가 발생하여 쓰레딩 전위 밀도(TDD)가 증가하는 문제점이 있습니다. 높은 TDD는 소자의 성능 저하를 야기하기 때문에, 고효율 GaInAs 광전 변환기를 제작하기 위해서는 AlGaInAs CGB의 상 분리를 억제하고 TDD를 줄이는 것이 필수적입니다.
연구 내용 및 결과
본 연구에서는 (411)A 방향으로 오프컷된 GaAs 기판을 사용하고, CGB 성장 과정에서 Zn 도핑을 통해 상 분리를 억제하고 TDD를 감소시키는 효과적인 방법을 제시했습니다.
- (411)A 기판 사용: (411)A 방향으로 오프컷된 GaAs 기판을 사용하면 표면 확산 길이가 제한되어 상 분리를 효과적으로 억제할 수 있습니다.
- Zn 도핑: Zn 도핑은 CGB의 결함 구조에 영향을 미쳐, 전위의 이동 속도를 증가시키고 상 분리를 억제하는 데 기여합니다.
결론 및 의의
본 연구에서 제시된 (411)A 기판 및 Zn 도핑을 이용한 AlGaInAs CGB 성장 기술은 1550nm 파장 대역에서 고효율 GaInAs 광전 변환기를 제작하는 데 중요한 역할을 할 것으로 기대됩니다. 특히, 본 연구 결과는 GaInP CGB를 사용한 기존의 GaInAs 소자에 비해 상당한 성능 향상을 보여주었으며, 추가적인 최적화를 통해 더 높은 효율을 달성할 수 있을 것으로 예상됩니다.
통계
(411)A 기판과 Zn 도핑된 CGB를 사용한 소자는 (100) 6°A 기판과 Si 도핑된 CGB를 사용한 소자에 비해 1570nm LPC 효율이 21.2%에서 31.9%로 59% 향상되었습니다.
최적화된 AlGaInAs CGB를 사용한 소자는 1-sun 조건에서 개방 회로 전압이 100mV 이상 증가했습니다.
Si 도핑된 CGB를 사용한 소자의 경우, Zn 도핑 농도가 0에서 1x10^18 cm^-3으로 증가함에 따라 WOC(Bandgap-voltage offset)가 0.513V에서 0.467V로 감소했습니다.
인용구
"The optimized AlGaInAs CGB grown on (411)A GaAs shows a significant improvement in peak LPC efficiency relative to the (100) 6°A Si-doped CGB device, with a 59% relative increase from 21.2% at 8.0 W/cm2 to 31.9% at 3.6 W/cm2."
"These optimized devices compare favorably to state of the art metamorphic 0.74 eV GaInAs devices grown using GaInP graded buffers, with significant room for optimization."