이 논문은 데이터에서 아핀 변환을 넘어선 연속적인 대칭성을 감지하는 새로운 벡터 필드 기반 방법을 제안하며, 이 방법은 기존 방법보다 계산적으로 효율적이고 특정 상황에서 더 나은 정확도를 제공합니다.
훈련된 신경망을 통해 데이터의 대칭성을 자동으로 발견하는 새로운 방법론인 LieSD를 제안합니다.
