本篇研究論文提出了一種名為「秩自適應協方差檢驗」(RACT)的新方法,用於檢測兩組樣本間協方差矩陣的差異。此方法特別適用於基因組學和神經影像學數據,這些數據通常具有高維度和低秩結構的特性。
在生物醫學研究中,比較兩組樣本間的協方差矩陣差異,可以提供比僅比較平均值差異更深入的科學見解。例如,在基因組學中,基因表達網絡(由多個基因表達水平的協方差量化)可以幫助我們更好地理解細胞行為的遺傳驅動因素。而在神經影像學中,比較不同掃描儀或不同實驗室收集的數據的協方差矩陣差異,可以幫助我們識別和校正批次效應。
RACT 方法的核心是一種基於 Ky-Fan(k) 範數的自適應檢驗統計量。Ky-Fan(k) 範數定義為矩陣前 k 個奇異值的總和,它能夠有效地捕捉由矩陣間低秩結構差異引起的信號。RACT 方法通過考慮一系列不同的 k 值,並選擇能夠最大化檢驗統計量的 k 值,來自適應地調整 Ky-Fan(k) 範數。此外,RACT 方法採用置換檢驗來進行統計推斷,以確保在有限樣本量的情況下,能夠有效地控制第一類錯誤率。
通過模擬研究和實際數據分析,研究人員證明了 RACT 方法的有效性。在模擬研究中,RACT 方法在各種協方差矩陣差異模式下,均表現出比現有方法更高的檢驗能力。在實際數據分析中,研究人員將 RACT 方法應用於肺癌基因表達數據和神經影像學數據,結果表明 RACT 方法能夠有效地識別不同癌症類型和不同掃描儀之間的協方差矩陣差異。
RACT 方法是一種強大且通用的雙樣本協方差矩陣檢驗方法,特別適用於基因組學和神經影像學數據。該方法能夠有效地利用數據中的低秩結構來提高檢驗能力,並通過置換檢驗確保了統計推斷的準確性。
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by David Veitch... klokken arxiv.org 11-25-2024
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