이 논문은 심층 메트릭 학습과 확산 모델을 이용한 합성 데이터 생성을 결합하여 분포 외 데이터 탐지 성능을 향상시키는 새로운 접근법을 제안한다.
분포 외 데이터 탐지는 강건한 기계 학습 모델 개발에 중요한 역할을 한다. 기존의 접근법 중 하나인 이상치 노출은 모델을 학습할 때 알려진 분포 외 데이터를 사용하여 훈련한다. 이 방법은 모델이 분포 외 데이터에 대해 낮은 확신도를 출력하도록 학습한다.
본 연구에서는 확산 모델을 이용하여 합성 분포 외 데이터를 생성하는 새로운 방법을 제안한다. 이를 위해 클래스 간 라벨 혼합 기법을 사용하여 의미 있는 혼합 데이터를 생성한다. 또한 최신 메트릭 학습 기법을 활용하여 모델을 학습한다.
실험 결과, 제안 방법은 기존 방법들에 비해 우수한 분포 외 데이터 탐지 성능을 보였다. 특히 소프트맥스 손실 함수와 메트릭 학습 기반 손실 함수 모두에서 합성 이상치 노출 기법이 큰 성능 향상을 보였다.
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by Assefa Seyou... às arxiv.org 05-02-2024
https://arxiv.org/pdf/2405.00631.pdfPerguntas Mais Profundas