แนวคิดหลัก
本研究結合密度泛函理論 (DFT) 和機器學習 (ML) 來預測 CsSnI$_3$ 中缺陷的形成能和電荷躍遷能級,確定了關鍵缺陷形成描述符,並確定了幾種可以抑制 p 型自摻雜的潛在摻雜劑。
บทคัดย่อ
書目資訊
Khamdang, C., & Wang, M. (2024). Defect formation in CsSnI3 from Density Functional Theory and Machine Learning. arXiv preprint arXiv:2411.07448.
研究目標
本研究旨在探討如何利用密度泛函理論 (DFT) 和機器學習 (ML) 來預測 CsSnI$_3$ 中缺陷的形成能和電荷躍遷能級,並藉此找出可以抑制 p 型自摻雜的潛在摻雜劑。
研究方法
- 利用 HSE06+SOC 泛函進行 DFT 計算,建立了 25 種取代 Sn 位點和 15 種取代 Cs 位點的摻雜劑的形成能和電荷躍遷能級數據集。
- 選擇了 18 個描述符,包括原子性質、塊材性質和熱力學性質,並使用皮爾遜相關係數進行特徵選擇,最終選取了 11 個關鍵特徵。
- 訓練了四種機器學習模型:線性回歸 (LR)、高斯過程回歸 (GPR)、核嶺回歸 (KRR) 和隨機森林回歸 (RFR),並使用均方根誤差 (RMSE) 評估模型性能。
主要發現
- DFT 計算結果顯示,在 I 貧乏條件下,三價摻雜劑(如 Al、Sc 和 Y)以及具有較高氧化態的 Nb,可以提高費米能級並抑制 p 型自摻雜。
- 在 Cs 位點,Ba 和 Sr 摻雜劑可以使費米能級分別固定在 0.26 eV 和 0.21 eV。
- RFR 模型在預測缺陷形成能和電荷躍遷能級方面表現最佳,RMSE 值最低。
- 特徵重要性分析表明,氧化態、形成熱、密度和電離能是決定缺陷形成能的主要描述符。
主要結論
- 結合 DFT 和 ML 可以有效預測 CsSnI$_3$ 中缺陷的形成能和電荷躍遷能級。
- 氧化態、形成熱、密度和電離能是設計新型摻雜劑以抑制 p 型自摻雜的關鍵描述符。
研究意義
本研究為設計高效穩定的 CsSnI$_3$ 太陽能電池和其他光電器件提供了理論指導。
研究限制與未來方向
- 本研究僅考慮了單一位點的取代摻雜,未來可以探討更複雜的缺陷類型。
- 可以進一步優化機器學習模型,提高預測精度。
- 可以將該方法應用於其他類型的鈣鈦礦材料。
สถิติ
CsSnI3 的帶隙為 1.32 eV。
在 I 貧乏條件下,本徵費米能級被固定在價帶頂以上 0.1 eV 處。
Al、Sc 和 Y 摻雜劑可以將費米能級分別固定在價帶頂以上 0.27、0.32 和 0.33 eV 處。
Ba 和 Sr 摻雜劑可以將費米能級分別固定在 0.26 和 0.21 eV 處。
RFR 模型預測 XSn 的 Ef (q = 0)、Ef (q = +1) 和 CT(+1/0) 的 RMSE 值分別為 0.22/0.26 eV、0.16/0.23 eV 和 0.16/0.26 eV。
RFR 模型預測 XCs 的 Ef (q = +1) 的 RMSE 值為 0.29/0.32 eV。