본 논문은 기존 MCP 검출기보다 공간 분해능과 다이나믹 레인지가 향상된 광섬유 결합 CMOS 카메라(TemCam-XF416)를 초고속 반사 고에너지 전자 회절(URHEED) 실험에 적용하여 회절 패턴 분석의 정확성을 높이고 새로운 연구 가능성을 제시합니다.
This research paper details the successful integration of a fiber-coupled CMOS camera into an ultra-high vacuum ultrafast reflection high-energy electron diffraction (URHEED) setup, highlighting its superior performance over the previously used MCP detector in terms of spatial resolution, dynamic range, and signal-to-background ratio.
結合奈米電子束探測和針對快速熱弛豫而設計的樣品支撐結構,可以顯著提高超快電子繞射的時間分辨率,實現兆赫茲級結構動力學研究。
나노초 열 방출을 통해 샘플을 효율적으로 냉각함으로써 초고속 전자 회절(UED)에서 메가헤르츠 반복률로 구조적 역학을 연구할 수 있습니다.
By engineering nanostructured sample supports for enhanced thermal dissipation, researchers achieved megahertz cycling of ultrafast structural dynamics, paving the way for high-resolution investigations of transient states of matter using ultrafast electron diffraction and microscopy.