本研究採用分子動力學模擬和凍結聲子多層切片方法,探討了面心立方鎳中聲子鬆弛過程的模式依賴性。
首先,作者通過分子動力學模擬獲得了平衡態下的原子軌跡,並利用快速傅里葉變換計算了聲子色散關係,與實驗結果吻合良好。
接下來,作者引入了一種新的"凍結軌跡激發"技術,可以選擇性地激發特定的聲子模式。通過對激發後的自由鬆弛過程進行電子繞射圖樣模擬,作者發現聲子鬆弛過程高度依賴於聲子模式:
X點激發的聲子鬆弛明顯慢於沿Δ對稱線的中間激發。前者在4皮秒內只減少了25-30%,而後者在1皮秒內就減少了60%。
在X點激發的情況下,出現了二聲子散射過程,導致繞射強度在激發頻率的兩倍處出現增強。這表明聲子-聲子相互作用在鬆弛過程中起重要作用。
沿Δ對稱線的中間激發還表現出頻率為激發頻率一半的振蕩,這可能是由於激發濾波器和積分孔徑的有限大小造成的。
總之,本研究揭示了聲子鬆弛過程的模式依賴性,表明傳統的對整個布里渣區平均的方法可能掩蓋了實際材料中重要的動力學行為。這對理解超快磁化動力學和能量耗散機制具有重要意義。
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