본 연구 논문은 멀티 스택 칩에서 유도 결합 링크(ICL)를 통신 매체로 사용할 때 발생하는 누화 현상을 분석하고 이를 완화하는 기술을 제시한다.
무어의 법칙에 따라 칩의 크기는 줄어들고 트랜지스터의 용량은 증가함에 따라 3차원 집적 회로(3D-IC)에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. 3D-IC는 수직으로 적층된 칩으로 구성되며, 칩 간 연결은 유선 또는 무선 방식으로 이루어진다. 유선 방식은 Through-Silicon-Via(TSV) 기술이 주로 사용되지만, 제조 공정이 복잡하고 비용이 많이 드는 단점이 있다. 반면, 무선 방식은 용량성 또는 유도성 결합 링크를 사용하여 칩 간 통신을 가능하게 한다. 용량성 결합 링크는 기술 통합에 제약이 있는 반면, 유도성 결합은 넓은 영역에서 통신이 가능하며 특정 통합 방식에 제한되지 않는 장점이 있다. 3D-IC에서 유도 결합 링크(ICL)는 일련의 전류 펄스를 사용하여 데이터를 전송하는 자기장을 활용한다. 송신기(1차 코일)의 입력 펄스는 수신기(2차 코일)에서 1차 전류의 증가 및 감쇠에 해당하는 두 개의 상보적인 펄스로 수신된다. ICL의 작동 원리는 폐쇄 루프 내에서 변화하는 자기장이 전선에 기전력(EMF)을 유도한다는 패러데이의 전자기 유도 법칙에 기반한다.
ICL은 제조 비용이 저렴하고 다른 수직 통신 방식보다 넓은 범위에서 통신이 가능하다는 장점이 있지만, 인접한 코일 간의 통신 간섭으로 인해 신호 무결성이 저하되고 오류율이 증가하는 누화 현상이 발생한다. 이러한 간섭은 시간 영역에서의 지터, 주파수 영역에서의 전압 노이즈 또는 둘 다를 초래할 수 있다. 누화는 인접한 코일 간의 상호 인덕턴스로 인해 발생하며, 코일 간 거리를 늘리거나, 인덕턴스 결합 통신의 특성에 맞는 코딩 또는 신호 방식을 선택하거나, 시간 인터리빙 다중화를 사용하는 등 다양한 기술을 통해 누화를 줄일 수 있다.
본 연구에서는 시간 인터리빙 다중화 기술과 1-of-4 코딩 기법을 사용하여 다양한 측정 및 설정에서 누화 현상을 분석하였다. 온칩 및 오프칩 누화를 포함한 다양한 시나리오를 조사하여 수신기가 겪는 원치 않는 결합을 확인하였다. 실험에서 Ansys 고주파 구조 시뮬레이션(HFSS) 시뮬레이터를 사용하여 코일 구조를 설계하고 코일의 누화 동작을 측정하여 Simulink 시뮬레이터에 대한 여러 매개변수를 추출하였다. 두 쌍과 네 쌍의 코일에 대한 ISR을 조사하기 위해 다양한 매개변수에 대한 다양한 설정을 스위프했다. 그런 다음 Simulink에서 통신 블록을 추상화하여 공제 기술 없이 비트 오류율(BER)을 계산했다. 마지막으로 원래 신호에서 시간 인터리빙 다중화 기술 및 1-of-4 코딩까지의 BER 결과를 비교했다.
시뮬레이션 결과, 코일 쌍의 수와 구성을 변경하면 누화 동작에 큰 영향을 미치는 것으로 나타났다. 코일 쌍의 수가 증가함에 따라 상호 인덕턴스 상호 작용의 복잡성이 증가하여 ISR 값이 높아졌다. 시간 인터리빙과 새로운 1-of-4 인코딩 모두 BER에서 개선을 보여 적절한 인코딩 체계를 선택하는 것이 누화 감소 및 전반적인 시스템 성능에 큰 영향을 미칠 수 있음을 보여주었다.
본 연구는 3D-IC에서 누화를 완화하기 위한 코일 설계 및 간격의 중요성을 강조한다. 시뮬레이션 결과는 트레이스 폭과 간격을 조정하면 누화 수준과 BER에 큰 영향을 미칠 수 있음을 보여준다. 또한 코딩 체계의 선택은 누화 관리에 중요한 역할을 한다. 1-of-4 코딩 체계에 대한 연구는 대역폭 효율성을 유지하면서 누화를 줄이는 데 유망한 결과를 보여주었다.
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