核心概念
本文提出了一個多尺度計算框架,用於揭示多晶超導體中由應變引起的臨界電流密度 (Jc) 衰減背後的物理機制,特別關注彈性變形和損傷對晶界超導性和渦旋釘扎的複雜影響。
統計資料
在 4.07 K 時,本徵軸向應變 εa=0.40% 時,臨界電流 (Ic) 的典型損失約為 40%。
微觀模型由面積為 1.8×1.8 μm2 的二維多晶 Nb3Sn 組成,其中晶粒的平均尺寸為 108 nm。
在不可逆階段,實驗結果與未考慮損傷的模擬結果之間存在顯著差異。
對於 |ψGB0|≥0.80 的情況,模擬結果表明 Jc-εa 隨拉伸應變表現出非單調性,這與實驗結果不一致。
對於 |ψGB0|≤0.40 的情況,隨著施加應變的增加,實驗 Jc 和模擬 Jc 之間存在偏差,表明小的 |ψGB0| 無法很好地再現實驗結果。
在可逆階段 (J20.5<0.33%),雙軸載荷下的 Jc 衰減與單軸拉伸載荷下的 Jc 衰減非常吻合。
引述
“然而,對於像 Nb3Sn 線材這樣的多晶超導體,它由銅基體和數千根細絲組成,其內部多晶結構的損傷無法通過現有的實驗技術檢測到。”
“多晶超導體的不可逆 Jc 衰減主要歸因於可逆應變和不可逆損傷引起的渦旋釘扎的抑制。”
“最引人注目的發現是,在沒有力學模擬的情況下,所提出的物理模型可以用於基於 Jc 的電磁實驗來近似估計超導多晶體的內部損傷。”