核心概念
在靜水壓力的作用下,錫基三元硫族化物 PbSnX2 (X=S, Se, Te) 會經歷從拓撲絕緣體 (TI) 相到拓撲晶體絕緣體 (TCI) 相的轉變。
本研究利用第一性原理計算方法,探討了靜水壓力下錫基三元硫族化物 PbSnX2 (X=S, Se, Te) 中 TI 相到 TCI 相的轉變。研究發現,這些材料在環境壓力和升高的壓力條件下都具有動態穩定性。在環境壓力下,這些材料具有拓撲平庸的基態,PbSnS2、PbSnSe2 和 PbSnTe2 的直接帶隙值分別為 0.338 eV、0.183 eV 和 0.217 eV。
拓撲相變
在施加靜水壓力後,這些材料會發生拓撲相變 (TPT)。
對於 PbSnS2、PbSnSe2 和 PbSnTe2,分別在 5 GPa、2.5 GPa 和 3.5 GPa 的壓力下觀察到第一個 TPT,即 TI 相。
在這些壓力下,體能帶結構中的 F 點出現單個能帶反轉,並且沿 (111) 表面出現奇數個狄拉克錐。
壓力進一步增加到 5.5 GPa、3 GPa 和 4 GPa 時,Γ 點會出現另一個能帶反轉,並且沿 (111) 平面出現偶數個狄拉克錐。
這些偶數個能帶反轉表明 (¯12¯1) 表面對 (¯10¯1) 平面具有鏡面對稱性,因此獲得了 TCI 相。
使用 Wannier 電荷中心的纏繞計算出的鏡面陳數的偶數值進一步證實了 TCI 相的存在。
TI 相到 TCI 相的轉變
具有偶數個狄拉克錐的材料可以表現出 TCI 相,如 SnTe 和 PbTe 等材料。
為了證實 PbSnX2 (X=S, Se, Te) 中 TCI 相的存在,研究人員分析了 (¯12¯1) 表面,該表面圍繞 (¯12¯1) 平面具有鏡面對稱性。
沿 ¯Γ −¯X k 路徑的狄拉克錐受到 (¯10¯1) 平面的鏡面對稱性保護。
沿 ¯S −¯Y −¯Γ 路徑,雜化後會打開能隙,因為 ¯Y 點不在鏡面 (¯10¯1) 上,這是體布里淵區中兩個 F 點的投影。
因此,PbSnX2 (X=S, Se, Te) 中存在受鏡面對稱性保護的狄拉克錐,並且在靜水壓力下第二次反轉後會發生 TI 到 TCI 的相變。
結論
本研究表明,PbSnX2 (X=S, Se, Te) 家族在靜水壓力下經歷了從平庸相到 TI 相再到 TCI 相的拓撲相變。這些發現為設計基於這些材料的新型拓撲器件提供了有價值的見解。
統計資料
PbSnS2、PbSnSe2 和 PbSnTe2 在環境壓力下的直接帶隙值分別為 0.338 eV、0.183 eV 和 0.217 eV。
對於 PbSnS2、PbSnSe2 和 PbSnTe2,TI 相分別在 5 GPa、2.5 GPa 和 3.5 GPa 的壓力下出現。
對於 PbSnX2 (X=S, Se, Te),TCI 相分別在 5.5 GPa、3 GPa 和 4 GPa 的壓力下出現。