Основні поняття
構造化偏光パターンを投影し、偏光カメラで捉えることで、物体の3D形状、表面法線、反射特性を同時に非可視で計測できる。
Анотація
本論文では、構造化偏光を用いた新しい深度と反射率の計測手法「SPIDeRS」を提案している。
- 偏光プロジェクターを用いて、角度偏光(AoLP)を空間的に変調したパターンを投影する
- 偏光カメラでその反射光を捉え、投影パターンを抽出する
- 投影パターンの解析から、物体の3D形状、表面法線、反射特性を同時に推定できる
- 偏光を利用するため、投影パターンは目に見えず、物体の外観を変えずに計測できる
- 実験では、様々な材質の物体について、深度、法線、反射特性の推定精度を確認し、物体のリライティングにも成功している
- 本手法は、拡張現実、ロボティクス、非破壊検査などの分野で有用な新しい3D計測手法となる
Статистика
物体表面の法線ベクトルと反射特性(BRDF)を同時に推定できるため、物体のリライティングが可能となる。
Цитати
"偏光を利用するため、投影パターンは目に見えず、物体の外観を変えずに計測できる"
"本手法は、拡張現実、ロボティクス、非破壊検査などの分野で有用な新しい3D計測手法となる"