이 연구에서는 랜덤 행렬을 사용하여 저장소 측정을 구축하는 새로운 접근 방식을 소개한다. 이 방법은 상태 설명을 생성하는 간단하고 확장 가능한 수단을 제공한다. 연구에서는 5개 원자 Heisenberg 스핀 체인과 같은 간단한 시스템을 사용하여 시계열 예측 및 데이터 보간과 같은 여러 작업을 수행한다. 측정 기술의 성능과 현재 한계에 대해 자세히 설명하고, 랜덤 행렬에서 생성된 측정의 다양성을 탐구한다. 또한 스핀 체인의 매개변수, 결합 강도 및 측정 차원 조정이 이러한 학습 기계의 성능에 미치는 영향을 탐구한다. 이 연구는 간단한 양자 시스템의 측정을 위한 랜덤 행렬의 사용을 강조하고 성능 향상 및 실험적 실현을 위한 방향을 제시한다.
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Ключові висновки, отримані з
by Samuel Tovey... о arxiv.org 04-12-2024
https://arxiv.org/pdf/2404.07278.pdfГлибші Запити