Основні поняття
우주 환경에서 CMOS 카메라의 온도 변화로 인한 암전류 잡음과 우주 방사선으로 인한 불량 픽셀 문제를 해결하기 위해, 실험실 데이터를 활용한 데이터 기반 모델링 접근법을 제안한다.
Анотація
이 논문은 우주 망원경용 CMOS 카메라의 암전류 잡음과 불량 픽셀 문제를 해결하기 위한 데이터 기반 접근법을 소개한다.
- 실험실에서 CMOS 카메라의 암전류 데이터를 수집하고, 픽셀 클러스터링과 함수 피팅 기법을 통해 온도-암전류 관계를 모델링한다.
- 실제 관측 데이터에 이 모델을 적용하여 카메라 온도를 추정하고, 이를 바탕으로 전체 픽셀의 암전류 수준을 예측한다.
- 이를 통해 암전류 잡음을 저감하고 불량 픽셀을 식별할 수 있다.
- 실제 양왕-1 위성의 근자외선 및 광학 망원경 데이터에 적용한 결과, 기존 방법 대비 검출 효율과 정확도가 크게 향상되었다.
Статистика
온도가 증가함에 따라 암전류 수준도 증가한다.
암전류 수준은 픽셀마다 다른 온도-암전류 관계를 보인다.
불량 픽셀은 일정 온도 이상에서 일정한 출력값을 보인다.
Цитати
"우주 환경에서 CMOS 카메라의 온도 변화로 인한 암전류 잡음과 우주 방사선으로 인한 불량 픽셀 문제는 관측 정확도를 저하시킨다."
"실험실 데이터를 활용한 데이터 기반 모델링 접근법은 실제 관측 데이터에서 암전류 수준을 효과적으로 추정하고 불량 픽셀을 식별할 수 있다."