本文探討了不完整的天線波束模型在校準過程中對重電離功率光譜測量的影響。作者使用實測的MWA天線波束數據,生成了一個具有物理意義的128天線陣列模擬。通過對比使用單一理想波束模型進行校準(不完整校準)與使用實測波束模型進行校準(完整校準)的結果,發現前者會導致前景功率泄漏進入重電離窗口,超過預期重電離信號水平1000倍。而後者則可以有效抑制這種泄漏,使前景成為次要系統誤差。作者提出未來需要進一步測量每個天線的波束響應,並將其納入校準框架,才能實現重電離信號的統計檢測。
Sang ngôn ngữ khác
từ nội dung nguồn
arxiv.org
Thông tin chi tiết chính được chắt lọc từ
by A. Chokshi, ... lúc arxiv.org 10-01-2024
https://arxiv.org/pdf/2409.19875.pdfYêu cầu sâu hơn