本文提出了一個新的半監督對比學習框架,稱為Semi-Supervised Contrastive (SSC)。該框架結合了監督對比學習(SupCon)和無監督對比學習,能夠同時利用有標籤、偽標籤和無標籤的數據進行訓練。
為了解決監督對比學習無法直接產生概率分佈的問題,作者提出使用類別原型(class prototypes)來計算偽標籤。理論上證明了這種方法與交叉熵損失函數是等價的。
將該框架應用於FixMatch算法後,在CIFAR-100和SVHN數據集上取得了顯著的性能提升,尤其是在標籤數據很少的情況下。此外,該框架還展現了更快的收斂速度、更好的遷移性能以及更穩定的超參數特性。
Sang ngôn ngữ khác
từ nội dung nguồn
arxiv.org
Thông tin chi tiết chính được chắt lọc từ
by Aurelien Gau... lúc arxiv.org 09-12-2024
https://arxiv.org/pdf/2409.07292.pdfYêu cầu sâu hơn