Kernekoncepter
본 논문에서는 노이즈가 있는 중간 회로 측정(MCM)을 특성화하기 위한 일반화된 사이클 벤치마킹(CB) 알고리즘을 제안하며, 이는 기존의 CB 알고리즘을 확장하여 MCM의 노이즈 모델 학습 가능성을 분석하고, 측정 노이즈와 상태 준비 노이즈 간의 독립성 테스트와 같은 실질적인 응용 사례를 제공합니다.
Resumé
중간 회로 측정 특성화를 위한 일반화된 사이클 벤치마킹 알고리즘: 연구 논문 요약
Zhang, Z., Chen, S., Liu, Y., & Jiang, L. (2024, October 4). A generalized cycle benchmarking algorithm for characterizing mid-circuit measurements. arXiv:2406.02669v2 [quant-ph].
본 연구는 결함 허용 양자 컴퓨팅 개발에 필수적인 중간 회로 측정(MCM)의 노이즈 특성화를 위한 일반화된 사이클 벤치마킹(CB) 알고리즘을 개발하는 것을 목표로 합니다.