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ほとんどすべての量子状態を少数の単一量子ビット測定で認証する


Conceptos Básicos
ほとんどすべての量子状態、特に指数関数的回路複雑度を持つ高度に絡み合った状態でも、わずか O(n^2) 個の単一量子ビット測定で認証できることを示した。
Resumen

本論文では、n量子ビットの目標状態 |ψ⟩と実験室で合成された状態 ρ の重なりを認証する新しい手法を提案している。

  • 提案手順では、ρ の各コピーから1つのランダムな量子ビットを選び、その他の量子ビットをZ基底で測定する。選択した量子ビットをX、Y、Zのいずれかの基底で測定し、その結果と |ψ⟩のクエリーから局所的な重なり ω を計算する。
  • 多数のコピーについて ω を平均した値 ˆω が、ρ と |ψ⟩の重なり ⟨ψ|ρ|ψ⟩の良い代替指標となることを示した。
  • ˆω と ⟨ψ|ρ|ψ⟩の関係は、|ψ⟩の緩和時間 τ に依存する。τ ≤ poly(n) の場合、ほとんどすべての |ψ⟩について O(n^2/ϵ) 個の単一量子ビット測定で認証できる。
  • この手法は、量子機械学習モデルの学習と認証、量子デバイスのベンチマーキング、量子回路の最適化などの応用に役立つ。
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Estadísticas
ほとんどすべての n量子ビット純粋状態 |ψ⟩について、その緩和時間 τ は τ ≤ O(n^2) である。 量子状態 |ψ⟩の緩和時間 τ が poly(n) 以下の場合、O(τ^2/ϵ^2) 個の単一量子ビット測定で、ρ と |ψ⟩の重なり ⟨ψ|ρ|ψ⟩ を認証できる。
Citas
"ほとんどすべての n量子ビット純粋状態 |ψ⟩について、その緩和時間 τ は τ ≤ O(n^2) である。" "量子状態 |ψ⟩の緩和時間 τ が poly(n) 以下の場合、O(τ^2/ϵ^2) 個の単一量子ビット測定で、ρ と |ψ⟩の重なり ⟨ψ|ρ|ψ⟩ を認証できる。"

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