試験対象デバイスの感受性しきい値レベルを反響室で特定するための代替的な方法

反響室における試験対象デバイスの感受性しきい値レベルを、入力電力の調整と繰り返し測定を行うことなく、撹拌過程での合否判定の回数をカウントすることで効率的に推定できる。