이진 소거 채널의 상호작용 용량에 대한 개선된 하한 - 오류 패턴 분석을 통한

이진 소거 채널의 상호작용 용량에 대한 개선된 하한을 제시하였다. 오류 패턴 분석을 통해 기존 연구보다 약 1.75배 향상된 하한을 도출하였다.