이 논문은 노이즈가 있는 IQP 회로의 출력 분포를 효율적으로 고전적으로 샘플링할 수 있는 알고리즘을 제시한다.
주요 내용은 다음과 같다:
IQP 회로에 노이즈가 있을 경우, 회로의 깊이가 일정 임계값 이상이 되면 고전 컴퓨터로 효율적으로 샘플링할 수 있음을 보인다.
이를 위해 노이즈로 인한 양자 얽힘 파괴 현상을 활용하여, 회로를 작은 독립적인 부분 회로로 나누어 각각 고전적으로 시뮬레이션할 수 있게 한다.
제안된 알고리즘은 회로 구조나 분포의 특성에 대한 가정 없이 적용 가능하며, 기존 연구보다 더 낮은 깊이에서 고전 시뮬레이션이 가능함을 보인다.
이를 통해 노이즈가 있는 IQP 회로에 대한 양자 우월성 실험의 한계를 지적하고, 오류 완화 기법의 한계를 제시한다.
To Another Language
from source content
arxiv.org
Key Insights Distilled From
by Joel Rajakum... at arxiv.org 03-22-2024
https://arxiv.org/pdf/2403.14607.pdfDeeper Inquiries