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노이즈가 있는 IQP 회로의 다항식 시간 고전 시뮬레이션


Core Concepts
노이즈가 있는 IQP 회로의 출력 분포를 다항식 시간 내에 고전적으로 샘플링할 수 있다.
Abstract

이 논문은 노이즈가 있는 IQP(Instantaneous Quantum Polynomial) 회로의 출력 분포를 효율적으로 고전적으로 샘플링할 수 있는 방법을 제시한다.

주요 내용은 다음과 같다:

  1. IQP 회로에 디페이징 또는 디폴라라이징 노이즈가 있는 경우, 회로 깊이가 일정 임계값 이상이 되면 고전 컴퓨터로 효율적으로 출력 분포를 샘플링할 수 있다.

  2. 이를 위해 노이즈로 인해 회로 내 엔탱글먼트가 제거되는 현상을 활용한다. 노이즈가 발생한 큐비트들은 서로 독립적으로 시뮬레이션할 수 있게 된다.

  3. 그래프 퍼콜레이션 이론과 집중도 측정을 사용하여, 노이즈로 인해 회로가 작은 독립 부회로들로 분해되는 현상을 분석한다.

  4. 이를 통해 노이즈가 있는 IQP 회로의 양자 우월성 실험이 고전적으로 시뮬레이션될 수 있음을 보인다. 또한 IQP 회로의 오류 완화 기법에도 한계가 있음을 시사한다.

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Stats
노이즈 파라미터 𝑝가 클수록 고전 시뮬레이션이 가능해지는 회로 깊이 임계값 𝑑∗이 낮아진다. 예를 들어 𝑝= 0.05일 때 𝑑∗≈ 33, 𝑝= 0.02일 때 𝑑∗≈ 117이다.
Quotes
"노이즈가 엔탱글먼트를 제거하는 효과를 활용하여, 회로를 독립적으로 시뮬레이션할 수 있는 작은 부회로들로 분해할 수 있다." "IQP 회로의 양자 우월성 실험이 고전적으로 시뮬레이션될 수 있음을 보여, IQP 회로의 오류 완화 기법에 한계가 있음을 시사한다."

Deeper Inquiries

IQP 회로 외에 다른 양자 우월성 실험에서도 이와 유사한 고전 시뮬레이션 가능성이 있는가

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노이즈가 있는 IQP 회로의 정확한 샘플링이 아닌 근사 샘플링의 경우, 고전 시뮬레이션이 가능한 깊이 임계값은 어떻게 달라지는가

노이즈가 있는 IQP 회로의 정확한 샘플링이 아닌 근사 샘플링의 경우, 고전 시뮬레이션이 가능한 깊이 임계값은 노이즈의 강도에 따라 달라집니다. 깊이 임계값은 노이즈의 강도에 따라 변동하며, 노이즈가 증가할수록 깊이 임계값이 낮아지게 됩니다. 이는 노이즈가 증가함에 따라 고전 시뮬레이션이 가능한 회로의 깊이가 증가하게 되는 것을 의미합니다.

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