利用低溫雙門控石墨烯異質結構的片上太赫茲光譜學

我們開發了一種利用光控制半導體門極的新方案,可在液氦溫度下對雙門控二維材料進行片上太赫茲光譜學測量,從而獲得其費米液體的光學電導率光譜。