核心概念
半導体スマート製造における収量向上のため、説明可能なAutoML(xAutoML)が優れた性能を発揮し、欠陥診断や関連アプリケーションに有益であることを示唆している。
要約
- 半導体スマート製造における収量向上の重要性が強調されている。
- xAutoMLは自律的に最適なモデルを学習し、鍵となる診断要因に洞察を提供する。
- xAutoMLはドメイン固有のカウンターメジャー、適応型最適化機能、埋め込み可能性を備えている。
- データ抽出方法やアルゴリズム選択技術が詳細に説明されている。
- 異常検出や欠陥分類への応用ポテンシャルが示唆されている。
1. 背景
半導体スマート製造では高い収量が重要であり、生産コスト削減や市場競争力強化に直結している。
2. 自動機械学習(AutoML)への需要
自動機械学習(AutoML)は収量向上戦略を強化するために採用されつつあり、クリティカルなプロセス段階の分析やトラブルシューティング支援など多くの役割を果たしている。
3. xAutoMLフレームワーク
xAutoMLはドメイン固有の自動化された機械学習手法であり、オプティマイザブルパイプライン内でキー診断要因を捉え、最適化された分類器を生成する。
4. アルゴリズム選択技術と特徴抽出方法
複数アルゴリズム統合と再帰的除去法によりモデル非依存キー特徴が選択され、効果的な特徴エンジニアリングへ貢献している。
5. 異常検出と欠陥分類への応用ポテンシャル
未監視クラスタリングアルゴリズムを活用した異常検出やフォーカスロス関数を使用した欠陥分類は効果的であり、生産効率向上や品質管理に貢献する見込み。
統計
単一サンプルから60,000以上の特徴が抽出されています。
最終的な特徴選択計画では35個の新しい特徴が追加されました。
欠陥分類では全体精度92.89%が実現されました。
引用
"Enhancing yield is recognized as a paramount driver to reducing production costs in semiconductor smart manufacturing."
"Findings exhibit that the proposed xAutoML is a compelling solution for semiconductor yield improvement, defect diagnosis, and related applications."