核心概念
단일 큐비트 측정만으로도 대부분의 양자 상태를 효율적으로 인증할 수 있다.
要約
이 논문은 양자 상태 인증을 위한 새로운 기술을 제안한다. 이 기술은 단일 큐비트 측정만으로도 대부분의 양자 상태, 심지어 지수 회로 복잡도를 가진 상태까지도 인증할 수 있다.
주요 내용은 다음과 같다:
- 단일 큐비트 측정 결과와 목표 상태 |ψ⟩의 진폭 쿼리를 이용해 그림자 중첩(shadow overlap)이라는 새로운 지표를 정의한다.
- 그림자 중첩은 상태 |ψ⟩와 실험실 상태 ρ 간의 중첩(fidelity) ⟨ψ|ρ|ψ⟩를 효과적으로 근사한다.
- 대부분의 양자 상태에 대해 그림자 중첩을 O(n^2) 개의 단일 큐비트 측정으로 추정할 수 있음을 보인다.
- 그림자 중첩을 활용해 양자 상태 기계학습 모델의 학습과 인증, 양자 장치 벤치마킹, 양자 회로 최적화 등 다양한 응용을 제시한다.
統計
단일 큐비트 측정만으로도 대부분의 양자 상태를 인증할 수 있다.
그림자 중첩은 상태 |ψ⟩와 실험실 상태 ρ 간의 중첩(fidelity) ⟨ψ|ρ|ψ⟩를 효과적으로 근사한다.
대부분의 양자 상태에 대해 그림자 중첩을 O(n^2) 개의 단일 큐비트 측정으로 추정할 수 있다.
引用
"단일 큐비트 측정만으로도 대부분의 양자 상태, 심지어 지수 회로 복잡도를 가진 상태까지도 인증할 수 있다."
"그림자 중첩은 상태 |ψ⟩와 실험실 상태 ρ 간의 중첩(fidelity) ⟨ψ|ρ|ψ⟩를 효과적으로 근사한다."
"대부분의 양자 상태에 대해 그림자 중첩을 O(n^2) 개의 단일 큐비트 측정으로 추정할 수 있다."