이 논문은 노이즈가 있는 IQP 회로의 출력 분포를 효율적으로 고전적으로 샘플링할 수 있는 알고리즘을 제시한다.
주요 내용은 다음과 같다:
IQP 회로에 노이즈가 있을 경우, 회로의 깊이가 일정 임계값 이상이 되면 고전 컴퓨터로 효율적으로 샘플링할 수 있음을 보인다.
이를 위해 노이즈로 인한 양자 얽힘 파괴 현상을 활용하여, 회로를 작은 독립적인 부분 회로로 나누어 각각 고전적으로 시뮬레이션할 수 있게 한다.
제안된 알고리즘은 회로 구조나 분포의 특성에 대한 가정 없이 적용 가능하며, 기존 연구보다 더 낮은 깊이에서 고전 시뮬레이션이 가능함을 보인다.
이를 통해 노이즈가 있는 IQP 회로에 대한 양자 우월성 실험의 한계를 지적하고, 오류 완화 기법의 한계를 제시한다.
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