核心概念
비대칭 이진 가설 검정 문제에서 독립 동일 분포 관측치를 이용한 최적 오류 확률에 대한 새로운 엄밀한 상한을 도출하였다. 정규 근사와 오류 지수 접근법보다 더 정확한 비대칭 영역에서의 비대칭 근사를 제공한다.
要約
이 논문은 두 확률 측도 P와 Q 사이의 이진 가설 검정 문제를 다룬다. 독립 동일 분포 관측치를 이용하여 최적 달성 가능한 오류 확률에 대한 새로운 엄밀한 상한을 도출하였다. 특히 두 오류 확률에 대한 요구 사항이 다른 비대칭 버전의 문제를 다루었다. 대수 이탈 및 가우시안 근사 기법을 활용하여 명시적 상수를 포함한 정확한 비대칭 근사를 얻었다. 예시를 통해 비대칭 영역에서 새로운 상한이 제안하는 근사가 기존의 정규 근사 및 오류 지수 접근법보다 훨씬 더 정확함을 보였다.
統計
이진 가설 검정에서 최적 달성 가능한 첫 번째 오류 확률 e*1,n(ε)은 표본 크기 n에 대해 지수적으로 감소한다.
첫 번째 오류 확률 e*1,n(ε)의 정확한 비대칭 근사는 기존 접근법보다 훨씬 더 정확하다.
引用
"새로운 엄밀한 상한은 정규 근사와 오류 지수 접근법보다 비대칭 영역에서 훨씬 더 정확한 근사를 제공한다."
"예시를 통해 새로운 상한이 제안하는 근사가 기존 접근법보다 훨씬 더 정확함을 보였다."