試験対象デバイスの感受性しきい値レベルを反響室で特定するための代替的な方法

Belangrijkste concepten

反響室における試験対象デバイスの感受性しきい値レベルを、入力電力の調整と繰り返し測定を行うことなく、撹拌過程での合否判定の回数をカウントすることで効率的に推定できる。

Samenvatting

本論文では、反響室における試験対象デバイス(DUT)の感受性しきい値電界(E界)レベルを特定する新しい方法を提案している。従来の方法では、入力電力を調整しながら繰り返し測定を行う必要があったが、本手法では撹拌過程での合否判定の回数をカウントするだけで、効率的にしきい値レベルを推定できる。

具体的には以下の手順で行う。

1. 反響室内の撹拌過程で、DUTの合否判定を記録する。
2. 合格判定の回数と全撹拌位置数から、累積分布関数(CDF)の値を推定する。
3. モンテカルロシミュレーションを用いて、この推定値から無偏推定量とその不確かさを算出する。

この手法は、理想的な反響室条件下でのレーリー分布だけでなく、線形成分を含むライス分布の場合にも適用できる。シミュレーション結果から、十分な撹拌位置数があれば、高精度にしきい値レベルを特定できることが示された。また、全ての撹拌位置でDUTが合格または不合格となる確率も明らかにした。

本手法は、反響室を用いた放射感受性試験の効率化に寄与するものと期待される。

Statistieken

反響室内の平均E界値を1 V/mとした場合の正規化しきい値E界は2.4 V/m
上記しきい値の相対標準不確かさは3.5%

Citaten

"反響室における試験対象デバイス(DUT)の感受性しきい値電界(E界)レベルを特定する新しい方法を提案している。"
"従来の方法では、入力電力を調整しながら繰り返し測定を行う必要があったが、本手法では撹拌過程での合否判定の回数をカウントするだけで、効率的にしきい値レベルを推定できる。"

Belangrijkste Inzichten Gedestilleerd Uit

An Alternative Method to Identify the Susceptibility Threshold Level of Device under Test in a Reverberation Chamber

by Qian Xu,Kai ... om arxiv.org 04-24-2024

https://arxiv.org/pdf/2404.15262.pdf

Diepere vragen

反響室以外の電磁環境(例えば無線通信システムの電磁環境)でも、本手法は適用可能か?

本手法は、反響室内でのDUTの電磁耐性評価に焦点を当てていますが、一般的な電磁環境においても適用可能性が考えられます。例えば、無線通信システムの電磁環境下でのDUTの耐性評価においても、本手法を応用することができます。無線通信システムにおける電磁環境下でのDUTの耐性評価においても、本手法によってDUTの感受性の閾値レベルを推定し、効率的な評価を行うことが可能です。

本手法では、DUTに永久的な損傷が生じないことを前提としているが、損傷が生じる場合の対処方法はあるか?

本手法では、DUTに永久的な損傷が生じないことを前提としていますが、万が一損傷が生じる場合の対処方法も考慮されるべきです。損傷が生じる可能性がある場合、評価プロセスを慎重に行い、入力電力を徐々に増加させるなどの従来の手法に従うことが重要です。損傷が生じるリスクがある場合には、安全を最優先に考え、慎重なアプローチが必要です。

本手法を応用して、DUTの電磁耐性設計の最適化に活用することはできないか?

本手法はDUTの感受性の閾値レベルを効率的に推定する手法であり、その結果を活用してDUTの電磁耐性設計の最適化に活用することが可能です。推定された閾値レベルを基に、DUTの設計や材料の選定、シールドの改善などの対策を講じることで、電磁耐性を向上させることができます。また、本手法によって得られるデータを元に、設計段階での予測や改善を行うことで、効率的な電磁耐性設計を実現することが可能です。