大規模集積化された571個のGaAsクアンタムポイントコンタクト・トランジスタの統計的評価による、ミリケルビン温度での量子化コンダクタンスの0.7異常の解明

大規模集積化された量子ポイントコンタクト・トランジスタの統計的評価により、0.7異常の微視的起源がvan Hoveモデルによって説明できることを示した。