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аналитика - Maschinelles Lernen Defektklassifizierung Halbleiterherstellung
Detaillierte Beobachtungen und experimentelle Erkenntnisse zur maschinellen Lernbasierten Defektklassifizierung in Wafern
Dieser Übersichtsartikel bietet eine umfassende Überprüfung der Methoden, die maschinelle Lernklassifizierungstechniken für die Identifizierung von Waferdefekten in der Halbleiterherstellung nutzen.
Detaillierte Beobachtungen und experimentelle Erkenntnisse zur maschinellen Lernbasierten Defektklassifizierung in Wafern
Diese Studie bietet einen umfassenden Überblick über Methoden des maschinellen Lernens zur Identifizierung von Defekten auf Halbleiterwafers. Sie analysiert die Vor- und Nachteile sowie potenzielle Anwendungen verschiedener Klassifizierungsalgorithmen.
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