
대규모 양자 컴퓨터 구현을 위해서는 수백만 개의 물리적 큐비트가 필요하며, 이를 위해 CMOS 산업 수준의 제조 기술과 테스팅 프로세스가 필요하다.


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Using a cryogenic 300-mm wafer prober, a new approach for the testing of hundreds of industry-manufactured spin qubit devices at 1.6 K provides high-volume data on performance, allowing optimization of the complementary metal–oxide–semiconductor (CMOS)-compatible fabrication process.

Probing single electrons across 300-mm spin qubit wafers - Nature

300mm-스핀-큐비트-웨이퍼에서-단일-전자-탐침


300mm 스핀 큐비트 웨이퍼에서 단일 전자 탐침
