본 연구에서는 대규모 배열의 양자점 접촉 트랜지스터를 이용하여 0.7 이상 현상의 통계적 특성을 분석하였으며, 이는 van Hove 모델과 단거리 상호작용을 지지하는 결과를 보여준다.