核心概念
본 논문에서는 FPGA의 동적 재구성 프로세스, 특히 멀티 테넌트 환경에서 재구성 관리자(RM)를 통해 부분 비트스트림을 로드하는 동안 지속적인 오류를 주입하는 새로운 공격 방법론을 제시합니다.
摘要
FPGA 패브릭의 부분 재구성을 대상으로 하는 지속적인 오류 주입 공격 분석
본 논문은 FPGA의 동적 재구성 프로세스, 특히 멀티 테넌트 환경에서 재구성 관리자(RM)를 통해 부분 비트스트림을 로드하는 동안 지속적인 오류를 주입하는 새로운 공격 방법론을 제시하는 연구 논문입니다.
본 연구의 주요 목표는 멀티 테넌트 FPGA 환경에서 악의적인 사용자가 FPGA의 부분 재구성 프로세스를 악용하여 다른 사용자의 비트스트림에 지속적인 오류를 주입할 수 있음을 보여주는 것입니다.
본 연구에서는 Xilinx Pynq FPGA 보드를 사용하여 실험을 진행했습니다. 공격자는 FPGA의 전력 분배 네트워크(PDN)에 전압 강하를 일으키는 전력 낭비 회로를 사용하여 부분 비트스트림이 RM을 통해 로드되는 동안 오류를 주입합니다.