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缺失數據插補、高斯過程、函數數據分析
基於記憶體對缺失函數數據進行最佳預測
本文提出了一種基於 L2 最佳化的演算法,用於重建高斯過程及其任意雙射變換的缺失函數數據,並探討了該方法在不同情況下的有效性。
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