核心概念
Die SIFT-unterstützte rektifizierte 2D-DIC-Methode korrigiert erfolgreich Messfehler bei nicht-perpendikulärer Kameraausrichtung.
统计
Eine genaue 2-D DIC-Messung erfordert eine parallele Ausrichtung des CCD-Sensors zur Probenoberfläche.
Die SIFT-unterstützte rektifizierte 2D-DIC-Methode erfordert keine zusätzliche Ausrüstung.
Die Methode zeigte eine hohe Genauigkeit, selbst bei großen Deformationen und Kamerarotationswinkeln.
引用
"Die SIFT-unterstützte rektifizierte 2D-DIC-Methode korrigiert erfolgreich Messfehler bei nicht-perpendikulärer Kameraausrichtung."
"Die Methode zeigte vielversprechende Leistung bei der Unterstützung von CrackPropNet bei Rissausbreitungsmessungen."