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Einblick - 우주 망원경용 CMOS 카메라의 암전류 및 불량 픽셀 저감
우주 망원경용 상보 금속 산화물 반도체 카메라의 암전류 잡음 및 불량 픽셀 저감을 위한 데이터 기반 접근법
우주 환경에서 CMOS 카메라의 온도 변화로 인한 암전류 잡음과 우주 방사선으로 인한 불량 픽셀 문제를 해결하기 위해, 실험실 데이터를 활용한 데이터 기반 모델링 접근법을 제안한다.
우주 망원경용 상보 금속 산화물 반도체 카메라의 암전류 잡음 및 불량 픽셀 저감을 위한 데이터 기반 접근법
우주 환경에서 CMOS 카메라의 온도 변화로 인한 암전류 잡음과 우주 방사선으로 인한 불량 픽셀 문제를 해결하기 위해 데이터 기반 접근법을 제안한다. 이를 통해 관측 데이터의 정확도와 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
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