우주 환경에서 CMOS 카메라의 온도 변화로 인한 암전류 잡음과 우주 방사선으로 인한 불량 픽셀 문제를 해결하기 위해 데이터 기반 접근법을 제안한다. 이를 통해 관측 데이터의 정확도와 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
우주 환경에서 CMOS 카메라의 온도 변화로 인한 암전류 잡음과 우주 방사선으로 인한 불량 픽셀 문제를 해결하기 위해, 실험실 데이터를 활용한 데이터 기반 모델링 접근법을 제안한다.